季丰电子成功自研独创性芯片软失效SER验证系统
《科创板日报》15日讯，近日，季丰电子自研的芯片SER（Soft Error Rate，软失效率）验证系统成功为客户完成首批测试。此举标志着中国大陆企业自研创新在该SER领域取得关键突破，可以为中国晶元、芯片企业提供高时效、更稳定可靠、以及更合理成本的SER方案，成为国内首次开发成功适用于工业验证标准的方法。
上一篇：中国安防半导体产业联盟在深圳成立
《科创板日报》15日讯，近日，季丰电子自研的芯片SER（Soft Error Rate，软失效率）验证系统成功为客户完成首批测试。此举标志着中国大陆企业自研创新在该SER领域取得关键突破，可以为中国晶元、芯片企业提供高时效、更稳定可靠、以及更合理成本的SER方案，成为国内首次开发成功适用于工业验证标准的方法。
上一篇：中国安防半导体产业联盟在深圳成立